Выполнили студенты группы P33113: Доморацкий Э.А., Юров М.А.
Преподаватель: Тищук Б.Ю.
Санкт-Петербург, 2021
Получить навыки разработки встроенных схем самотестирования (BIST, built-in self-test) для цифровых устройств, реализованных на базе программируемых логических интегральных схем (ПЛИС).
Репозиторий: https://github.com/theotheruser2/schemelab4
imports - директория с элементами исходной ПЛИС:
sqrt.v
- блок вычисления квадратного корня
a_sqrtb.v
- схема для вычисления значения функции
multiplier.v
- блок умножения
new - директория с элементами, созданными для данной лабораторной работы:
bist.v
- модуль "BIST control logic"
button.v
- LPF-фильтр
crc8.v
- модуль расчёта CRC8
lfsr.v
- внешний регистр LFSR
lfsr2.v
- внутренний регистр LFSR
imports - директория с тестовым исходной ПЛИС:
ab_tb.v
- тестирование блока вычисления квадратного корня
s_test.v
- тестирование работы схемы в целом
new - директория с тестовым окружением, созданным для данной лабораторной работы:
bist_tb.v
- тестирование модуля "BIST control logic"
button_tb.v
- тестирование LPF-фильтра
crc8_tb.v
- тестирование модуля расчёта CRC8
lfsr_tb.v
- тестирование внешних регистров LFSR
constraints.xdc
bist.bit
Временная диаграма тестирования. Сигналы подаются с частотой 100 МГц:
Все значения операндов, перебираемые в режиме самотестирования, попадают в область допустимых значений для функции y = a * √b
, где a
, b
- целые беззнаковые числа разрядностью восемь бит. a, b ∈ [0; 255]
.
Результаты и время моделирования в режиме самотестирования:
Полученные на основе симуляции данные об использовании ресурсов устройства, энергопотреблении, температуре:
В результате работы нами была создана схема самотестирования для разработанной для прошлой лабораторной работы ПЛИС на языке Verilog, а также имплементирован RC-фильтр низких частот для защиты от воздействия дребезга контактов на работу схемы.